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    安徽自考服务网> 试题题库列表页> 半导体产品的烤机试验,将产品暴露在高温下来强制缺陷发生,这种可靠性试验属于【 】12-329

    2013年7月质量管理试卷真题

    卷面总分:100分     试卷年份:2013    是否有答案:    作答时间: 150分钟   

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    半导体产品的烤机试验,将产品暴露在高温下来强制缺陷发生,这种可靠性试验属于【 】12-329

    • A、可靠性测定试验
    • B、可靠性鉴定试验
    • C、可靠性验收实验
    • D、环境应力筛选试验
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    为了分析过程是否处于稳定状态,现每小时从过程抽取5个样品,已抽得30组样本,并得到各组的均值和极差Ri,且=458.4与=127.6,给定n=5时,A2=0.577。要求:(1)计算控制图的上下控制界限值及中心值。10-265/267(2)若绘制控制图并打点后发现有1个点子在上控制界限上,其它点均在界内且无异常排列,试判断过程是否稳定,并说明理由。10-267

    以下测量组织绩效的指标中,属于组织有效性的测量指标有【 】8-201

    • A、运营利润
    • B、生产灵活性
    • C、产品与服务质量
    • D、周期时间
    • E、投入市场的时间

    自愿性认证适用于【 】13-353

    • A、关系国计民生的产品
    • B、有关人身安全的产品
    • C、具有重大经济价值的产品
    • D、一般性产品

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